|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 114 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability aspects of copper metallization and interconnect technology for power devices |
| Auteur: |
Hille, Frank Roth, Roman Schäffer, Carsten Schulze, Holger Heuck, Nicolas Bolowski, Daniel Guth, Karsten Ciliox, Alexander Rott, Karina Umbach, Frank Kerber, Martin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 114 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |