|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-trap-induced random telegraph noise for FinFET, Si/Ge Nanowire FET, Tunnel FET, SRAM and logic circuits |
| Auteur: |
Fan, Ming-Long Yang, Shao-Yu Hu, Vita Pi-Ho Chen, Yin-Nien Su, Pin Chuang, Ching-Te |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 4 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |