Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             13 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Adaptation of the Process-Oriented Approach to the Development of Embedded Microcontroller Systems Rozov, A. S.
2019
55 2 p. 198-204
artikel
2 Automatic Verification of Control Software in Cyber-Physical Systems with Plant Simulators Lyakh, T. V.
2019
55 2 p. 189-197
artikel
3 Combined Method of Visualization of Functionally Defined Surfaces and Three-Dimensional Textures Vyatkin, S. I.
2019
55 2 p. 172-180
artikel
4 Elements of the Terahertz Power Reflective Optics with Free-Form Surfaces Agafonov, A. N.
2019
55 2 p. 148-153
artikel
5 Gigahertz MEMS Clock Generator Kostsov, E. G.
2019
55 2 p. 154-161
artikel
6 Implementation of Terahertz High-Pass Filters Based on All-Metal Microstructures using Deep X-ray Lithography Gentselev, A. N.
2019
55 2 p. 115-125
artikel
7 Methods of Mobile Robot Visual Navigation and Environment Mapping Pershina, J. S.
2019
55 2 p. 181-188
artikel
8 Methods of Preprocessing Tomographic Images Taking into Account the Thermal Instability of the X-ray Tube Ingacheva, A. S.
2019
55 2 p. 138-147
artikel
9 Modeling of the Tonal Noise Characteristics in a Foil Flow by using Machine Learning Abdurakipov, S. S.
2019
55 2 p. 205-211
artikel
10 Real-Time Control of Nonflatness of Components of Infrared-Range Flip-Chip Photodetectors Novoselov, A. R.
2019
55 2 p. 162-171
artikel
11 Structure of Ni3Al Single Crystal after Severe Plastic Deformation Kuts, O. A.
2019
55 2 p. 133-137
artikel
12 Vacuum Ultraviolet and Soft X-ray Broadband Monochromator for a Synchrotron Radiation Metrological Station Zavertkin, P. S.
2019
55 2 p. 107-114
artikel
13 X-ray Diffraction Tomography Using Laboratory Sources for Studying Single Dislocations in a Low Absorbing Silicon Single Crystal Zolotov, D. A.
2019
55 2 p. 126-132
artikel
                             13 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland