|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
5 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A golden-template self-generating method for patterned wafer inspection |
Xie, Pin |
2000 |
12 | 3 |
p. 149-156 |
artikel |
|
| 2 | An automatic assessment scheme for steel quality inspection |
Wiltschi, Klaus |
2000 |
12 | 3 |
p. 113-128 |
artikel |
|
| 3 | Automatic IC orientation checks |
Kassim, A.A. |
2000 |
12 | 3 |
p. 107-112 |
artikel |
|
| 4 | Building a color classification system for textured and hue homogeneous surfaces: system calibration and algorithm |
Daul, Christian |
2000 |
12 | 3 |
p. 137-148 |
artikel |
|
| 5 | Perceptual correction for colour grading of random textures |
Boukouvalas, C. |
2000 |
12 | 3 |
p. 129-136 |
artikel |
5 gevonden resultaten