Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Multi-Objective Test Scenario Prioritization Method Based on UML Activity Diagram Du, Xiaozhi
41 2 p. 147-171
 artikel
2 Editorial Agrawal, Vishwani D.
41 2 p. 109-110
 artikel
3 Extreme Learning Machine Model For Multi-Fault Diagnosis of Analog Circuits Biswas, Suman
41 2 p. 221-239
 artikel
4 Hybrid Ring Generators for In-System Testing Rajski, Janusz
41 2 p. 241-253
 artikel
5 Logic Locking Based Configurable Obfuscation Cell for Enhanced IC Security Baluprithviraj, K. N.
41 2 p. 139-146
 artikel
6 Real-time Embedded System Fault Injector Framework for Micro-architectural State Based Reliability Assessment Magliano, Enrico
41 2 p. 193-208
 artikel
7 Small Delay Fault Testing with Multiple Voltages under Variations: Defect vs. Fault Coverage Jafarzadeh, Hanieh
41 2 p. 209-219
 artikel
8 Survey of Verification of RISC-V Processors Tain, Chloe
41 2 p. 111-138
 artikel
9 Test Case Optimization using Machine Learning based Hybrid Meta-Heuristic Approach Rao, Gajender
41 2 p. 173-192
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland