|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A Source-code Aware Method for Software Mutation Testing Using Artificial Bee Colony Algorithm |
Arasteh, Bahman |
|
38 | 3 |
p. 289-302 |
artikel |
|
| 2 | A Systematic Bit Selection Method for Robust SRAM PUFs |
Wang, Wendong |
|
38 | 3 |
p. 235-246 |
artikel |
|
| 3 | Built-In Self-Test for Multi-Threshold NULL Convention Logic Asynchronous Circuits using Pipeline Stage Parallelism |
Sparkman, Brett |
|
38 | 3 |
p. 321-334 |
artikel |
|
| 4 | Cross-PUF Attacks: Targeting FPGA Implementation of Arbiter-PUFs |
Kroeger, Trevor |
|
38 | 3 |
p. 261-277 |
artikel |
|
| 5 | Deep Soft Error Propagation Modeling Using Graph Attention Network |
Ma, Junchi |
|
38 | 3 |
p. 303-319 |
artikel |
|
| 6 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
|
38 | 3 |
p. 231 |
artikel |
|
| 7 | Research on Analog Integrated Circuit Test Parameter Set Reduction Based on XGBoost |
Xiao, Yindong |
|
38 | 3 |
p. 279-288 |
artikel |
|
| 8 | Test Technology Newsletter |
|
38 | 3 |
p. 233-234 |
artikel |
||
| 9 | The Detection of Malicious Modifications in the FPGA |
Zahid, Kamran |
|
38 | 3 |
p. 247-260 |
artikel |
9 gevonden resultaten