Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Application of Machine Learning Techniques in Post-Silicon Debugging and Bug Localization Mandouh, Eman El
 2018
 34 2 p. 163-181
 artikel
2 Detectability Challenges of Bridge Defects in FinFET Based Logic Cells Forero, Freddy
 2018
 34 2 p. 123-134
 artikel
3 Digitally-Controlled Compensation Current Injection to ATE Power Supply for Emulation of Customer Environment Terao, Naoki
 2018
 34 2 p. 147-161
 artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2018
 34 2 p. 105
 artikel
5 Handling Unknown with Blend of Scan and Scan Compression Shantagiri, Pralhadrao V.
 2018
 34 2 p. 135-146
 artikel
6 Machine Learning for Hardware Security: Opportunities and Risks Elnaggar, Rana
 2018
 34 2 p. 183-201
 artikel
7 Measurement of Nonlinear Dielectric Behaviour of Semiconductor Material Under Microwave Field in Dual-Mode Rectangular Cavity Gao, Yong
 2018
 34 2 p. 203-207
 artikel
8 Test Technology Newsletter 2018
 34 2 p. 107-108
 artikel
9 The Fundamental Primitives with Fault-Tolerance in Quantum-Dot Cellular Automata Sun, Mengbo
 2018
 34 2 p. 109-122
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland