Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Hilbert-Transform-Based Method to Estimate and Correct Timing Error in Time-Interleaved ADCs Wang, Li
 2015
 31 3 p. 291-299
 artikel
2 A New Approach to Model the Effect of Topology on Testing Using Boundary Scan Fotovatikhah, Farnaz
 2015
 31 3 p. 301-310
 artikel
3 A New On-chip Signal Generator for Charge-Based Capacitance Measurement Circuit Yu, Xiao Peng
 2015
 31 3 p. 329-333
 artikel
4 A Unified Sequential Equivalence Checking Methodology to Verify RTL Designs with High-Level Functional and Protocol Specification Models Castro Marquez, Carlos Ivan
 2015
 31 3 p. 255-273
 artikel
5 Circuit-Level Simulation of the Single Event Transients in an On-Chip Single Event Latchup Protection Switch Andjelković, Marko S.
 2015
 31 3 p. 275-289
 artikel
6 Contactless Testing of Circuit Interconnects Renbi, Abdelghani
 2015
 31 3 p. 229-253
 artikel
7 Distributed Scan Like Fault Detection and Test Optimization for Digital Microfluidic Biochips Mukherjee, Subhamita
 2015
 31 3 p. 311-319
 artikel
8 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2015
 31 3 p. 225
 artikel
9 One More Class of Sequential Circuits having Combinational Test Generation Complexity Das, Debesh Kumar
 2015
 31 3 p. 321-327
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2015
 31 3 p. 227-228
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland