Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Framework for Automated Detection of Power-related Software Errors in Industrial Verification Processes Gandini, Stefano
 2010
 26 6 p. 689-697
 artikel
2 An Effective and Accurate Methodology for the Cell Internal Defect Diagnosis Ladhar, Aymen
 2010
 26 6 p. 621-639
 artikel
3 Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time Namba, Kazuteru
 2010
 26 6 p. 667-677
 artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2010
 26 6 p. 595-596
 artikel
5 Enabling Remote Testing: Embedded Test Controller and Mixed-signal Test Architecture Hannu, Jari
 2010
 26 6 p. 641-658
 artikel
6 Modified Selective Huffman Coding for Optimization of Test Data Compression, Test Application Time and Area Overhead Mehta, Usha Sandeep
 2010
 26 6 p. 679-688
 artikel
7 On-Chip Delay Measurement Based Response Analysis for Timing Characterization Datta, Ramyanshu
 2010
 26 6 p. 599-619
 artikel
8 Study of Read Recovery Dynamic Faults in 6T SRAMS and Method to Improve Test Time Dubey, Prashant
 2010
 26 6 p. 659-666
 artikel
9 Test Technology Newsletter 2010
 26 6 p. 597-598
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland