Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A BIST Solution for Frequency Domain Characterization of Analog Circuits Barragán, Manuel J.
 2010
 26 4 p. 429-441
 artikel
2 A New Built-in TPG Based on Berlekamp–Massey Algorithm Souza, Cleonilson Protásio de
 2010
 26 4 p. 443-451
 artikel
3 Bandwidth Analysis of Functional Interconnects Used as Test Access Mechanism Berg, Ardy van den
 2010
 26 4 p. 453-464
 artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2010
 26 4 p. 401
 artikel
5 On the Application of Dynamic Scan Chain Partitioning for Reducing Peak Shift Power Almukhaizim, Sobeeh
 2010
 26 4 p. 465-481
 artikel
6 On the Duality of Probing and Fault Attacks Gammel, Berndt M.
 2010
 26 4 p. 483-493
 artikel
7 Production Realization of MTPR Test on Low-Cost ATE for OFDM Based Communication Devices Srinivasan, Ganesh
 2010
 26 4 p. 405-417
 artikel
8 Test Generation Algorithm for Linear Systems Based on Genetic Algorithm Long, Ting
 2010
 26 4 p. 419-428
 artikel
9 Test Technology Newsletter 2010
 26 4 p. 403-404
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland