|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A Better Method than Tail-fitting Algorithm for Jitter Separation Based on Gaussian Mixture Model |
Nan, Fangyuan |
2009 |
25 | 6 |
p. 337-342 |
artikel |
|
| 2 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2009 |
25 | 6 |
p. 285 |
artikel |
|
| 3 | Low-Area Wrapper Cell Design for Hierarchical SoC Testing |
Kim, Kyuchull |
2009 |
25 | 6 |
p. 347-352 |
artikel |
|
| 4 | LPTest: a Flexible Low-Power Test Pattern Generator |
Wu, Meng-Fan |
2009 |
25 | 6 |
p. 323-335 |
artikel |
|
| 5 | On Boosting the Accuracy of Non-RF to RF Correlation-Based Specification Test Compaction |
Kupp, Nathan |
2009 |
25 | 6 |
p. 309-321 |
artikel |
|
| 6 | On Built-In Self-Test for Adders |
Pulukuri, Mary D. |
2009 |
25 | 6 |
p. 343-346 |
artikel |
|
| 7 | PSL Assertion Checking Using Temporally Extended High-Level Decision Diagrams |
Jenihhin, Maksim |
2009 |
25 | 6 |
p. 289-300 |
artikel |
|
| 8 | Test Technology Newsletter |
2009 |
25 | 6 |
p. 287-288 |
artikel |
||
| 9 | Utilizing On-chip Resources for Testing Embedded Mixed-signal Cores |
Wegener, Carsten |
2009 |
25 | 6 |
p. 301-308 |
artikel |
9 gevonden resultaten