Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 ADOFs and Resistive-ADOFs in SRAM Address Decoders: Test Conditions and March Solutions Dilillo, Luigi
 2006
 22 3 p. 287-296
 artikel
2 A Low-Cost Jitter Measurement Technique for BIST Applications Huang, Jiun-Lang
 2006
 22 3 p. 219-228
 artikel
3 An Automated BIST Architecture for Testing and Diagnosing FPGA Interconnect Faults Smith, Jack
 2006
 22 3 p. 239-253
 artikel
4 A Novel RF Test Scheme Based on a DFT Method Ryu, Jee-Youl
 2006
 22 3 p. 229-237
 artikel
5 Combining Scan Test and Built-in Self Test Seuring, Markus
 2006
 22 3 p. 297-299
 artikel
6 Defect Simulation Methodology for iDDT Testing Singh, Abhishek
 2006
 22 3 p. 255-272
 artikel
7 Editorial 2006
 22 3 p. 215
 artikel
8 Observability Statement Coverage Based on Dynamic Factored Use-Definition Chains for Functional Verification Lv, Tao
 2006
 22 3 p. 273-285
 artikel
9 Security Extension for IEEE Std 1149.1 Novak, Franc
 2006
 22 3 p. 301-303
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2006
 22 3 p. 217-218
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland