|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Accurate Whole-Chip Diagnostic Strategy for Scan Designs with Multiple Faults |
Lin, Yu-Chiun |
2006 |
22 | 2 |
p. 151-159 |
artikel |
|
| 2 | An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs |
Girard, Patrick |
2006 |
22 | 2 |
p. 161-172 |
artikel |
|
| 3 | Concurrent Error Detection in a Polynomial Basis Multiplier over GF(2m) |
Lee, Chiou-Yng |
2006 |
22 | 2 |
p. 143-150 |
artikel |
|
| 4 | Crosstalk Induced Fault Analysis and Test in DRAMs |
Yang, Zemo |
2006 |
22 | 2 |
p. 173-187 |
artikel |
|
| 5 | Electro-thermal Stimuli for MEMS Testing in FSBM Technology |
Dumas, N. |
2006 |
22 | 2 |
p. 189-198 |
artikel |
|
| 6 | Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100 nm CMOS Circuits |
Paul, Bipul C. |
2006 |
22 | 2 |
p. 115-124 |
artikel |
|
| 7 | Test Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems |
Su, Fei |
2006 |
22 | 2 |
p. 199-210 |
artikel |
7 gevonden resultaten