|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Abort-on-Fail Based Test Scheduling |
Larsson, Erik |
2005 |
21 | 6 |
p. 651-658 |
artikel |
|
| 2 | A Realistic Timing Test Model and Its Applications in High-Speed Interconnect Devices |
Wang, Baosheng |
2005 |
21 | 6 |
p. 621-630 |
artikel |
|
| 3 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2005 |
21 | 6 |
p. 567 |
artikel |
|
| 4 | Fault Detection in Switched Current Circuits Using Built-in Transient Current Sensors |
Lechuga, Y. |
2005 |
21 | 6 |
p. 583-598 |
artikel |
|
| 5 | Low-Cost Testing of 5 GHz Low Noise Amplifiers Using New RF BIST Circuit |
Ryu, Jee-Youl |
2005 |
21 | 6 |
p. 571-581 |
artikel |
|
| 6 | Multiple-Constraint Driven System-on-Chip Test Time Optimization |
Pouget, Julien |
2005 |
21 | 6 |
p. 599-611 |
artikel |
|
| 7 | Reducing Scan Shifts Using Configurations of Compatible and Folding Scan Trees |
Yotsuyanagi, H. |
2005 |
21 | 6 |
p. 613-620 |
artikel |
|
| 8 | Test Technology Newsletter |
2005 |
21 | 6 |
p. 569-570 |
artikel |
||
| 9 | The Coupling Model for Function and Delay Faults |
Yi, Joonhwan |
2005 |
21 | 6 |
p. 631-649 |
artikel |
9 gevonden resultaten