Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             20 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Design for Testability Scheme for CMOS LC-Tank Voltage Controlled Oscillators L. Dermentzoglou
 2004
 20 2 p. 133-142
10 p.
 artikel
2 A Design for Testability Scheme for CMOS LC-Tank Voltage Controlled Oscillators Dermentzoglou, L.
 2004
 20 2 p. 133-142
 artikel
3 A Low-Cost At-Speed BIST Architecture for Embedded Processor and SRAM Cores M.H. Tehranipour
 2004
 20 2 p. 155-168
14 p.
 artikel
4 A Low-Cost At-Speed BIST Architecture for Embedded Processor and SRAM Cores Tehranipour, M.H.
 2004
 20 2 p. 155-168
 artikel
5 Analog Switches in Programmable Analog Devices Quiescent Defective Behaviours R. Rodríguez-Montañés
 2004
 20 2 p. 143-153
11 p.
 artikel
6 Analog Switches in Programmable Analog Devices: Quiescent Defective Behaviours Rodríguez-Montañés, R.
 2004
 20 2 p. 143-153
 artikel
7 Analysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes Anshuman Chandra
 2004
 20 2 p. 199-212
14 p.
 artikel
8 Analysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes Chandra, Anshuman
 2004
 20 2 p. 199-212
 artikel
9 Editorial Vishwani D. Agrawal
 2004
 20 2 p. 127-127
1 p.
 artikel
10 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2004
 20 2 p. 127
 artikel
11 New Editorial Board Members 2004
 20 2 p. 129-130
2 p.
 artikel
12 New Editorial Board Members 2004
 20 2 p. 129-130
 artikel
13 Scalable Delay Fault BIST for Use with Low-Cost ATE Ilia Polian
 2004
 20 2 p. 181-197
17 p.
 artikel
14 Scalable Delay Fault BIST for Use with Low-Cost ATE Polian, Ilia
 2004
 20 2 p. 181-197
 artikel
15 Scan Latch Design for Test Applications Amit M. Sheth
 2004
 20 2 p. 213-216
4 p.
 artikel
16 Scan Latch Design for Test Applications Sheth, Amit M.
 2004
 20 2 p. 213-216
 artikel
17 Testability Trade-Offs for BIST Data Paths Nicola Nicolici
 2004
 20 2 p. 169-179
11 p.
 artikel
18 Testability Trade-Offs for BIST Data Paths Nicolici, Nicola
 2004
 20 2 p. 169-179
 artikel
19 Test Technology Technical Council Newsletter P. Prinetto
 2004
 20 2 p. 131-132
2 p.
 artikel
20 Test Technology Technical Council Newsletter Prinetto, P.
 2004
 20 2 p. 131-132
 artikel
                             20 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland