Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             18 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 An Algebraic Approach to Formal Verification of Microprocessors Kanji Hirabayashi
 2001
 17 6 p. 543-544
2 p.
 artikel
2 An Algebraic Approach to Formal Verification of Microprocessors Hirabayashi, Kanji
 2001
 17 6 p. 543-544
 artikel
3 Editorial Vishwani D. Agrawal
 2001
 17 6 p. 455-455
1 p.
 artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2001
 17 6 p. 455
 artikel
5 Fault Diagnosis for Linear Analog Circuits Jun Weir Lin
 2001
 17 6 p. 483-494
12 p.
 artikel
6 Fault Diagnosis for Linear Analog Circuits Lin, Jun Weir
 2001
 17 6 p. 483-494
 artikel
7 Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits Using Neural Networks with Wavelet and Fourier Transforms as Preprocessors Farzan Aminian
 2001
 17 6 p. 471-481
11 p.
 artikel
8 Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits Using Neural Networks with Wavelet and Fourier Transforms as Preprocessors Aminian, Farzan
 2001
 17 6 p. 471-481
 artikel
9 Fault Models and Test Procedures for Flash Memory Disturbances Mohammad Gh. Mohammad
 2001
 17 6 p. 495-508
14 p.
 artikel
10 Fault Models and Test Procedures for Flash Memory Disturbances Mohammad, Mohammad Gh.
 2001
 17 6 p. 495-508
 artikel
11 Generation of Electrically Induced Stimuli for MEMS Self-Test Benoît Charlot
 2001
 17 6 p. 459-470
12 p.
 artikel
12 Generation of Electrically Induced Stimuli for MEMS Self-Test Charlot, Benoît
 2001
 17 6 p. 459-470
 artikel
13 On Using Twisted-Ring Counters for Test Set Embedding in BIST Shivakumar Swaminathan
 2001
 17 6 p. 529-542
14 p.
 artikel
14 On Using Twisted-Ring Counters for Test Set Embedding in BIST Swaminathan, Shivakumar
 2001
 17 6 p. 529-542
 artikel
15 Test Technology Technical Council Newsletter 2001
 17 6 p. 457-458
2 p.
 artikel
16 Test Technology Technical Council Newsletter 2001
 17 6 p. 457-458
 artikel
17 Why is Combinational ATPG Efficiently Solvable for Practical VLSI Circuits Mukul R. Prasad
 2001
 17 6 p. 509-527
19 p.
 artikel
18 Why is Combinational ATPG Efficiently Solvable for Practical VLSI Circuits? Prasad, Mukul R.
 2001
 17 6 p. 509-527
 artikel
                             18 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland