|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
8 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Detection of Delay Faults in Memory Address Decoders |
Gizdarski, Emil |
2000 |
16 | 4 |
p. 381-387 |
artikel |
|
| 2 | Diagnosis Method Using ΔIDDQ Probabilistic Signatures: Theory and Results |
Thibeault, Claude |
2000 |
16 | 4 |
p. 339-353 |
artikel |
|
| 3 | Distributed BIST Architecture to Combat Delay Faults |
Savir, Jacob |
2000 |
16 | 4 |
p. 369-380 |
artikel |
|
| 4 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2000 |
16 | 4 |
p. 315 |
artikel |
|
| 5 | Embedded Checker Architectures for Cyclic and Low-Cost Arithmetic Codes |
Stroele, Albrecht P. |
2000 |
16 | 4 |
p. 355-367 |
artikel |
|
| 6 | New March Tests for Multiport RAM Devices |
Chakraborty, Kanad |
2000 |
16 | 4 |
p. 389-395 |
artikel |
|
| 7 | Test Set and Fault Partitioning Techniques for Static Test Sequence Compaction for Sequential Circuits |
Hsiao, Michael S. |
2000 |
16 | 4 |
p. 329-338 |
artikel |
|
| 8 | Test Set Compaction Using Relaxed Subsequence Removal |
Hsiao, Michael S. |
2000 |
16 | 4 |
p. 319-327 |
artikel |
8 gevonden resultaten