|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
1 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Nanoscale characterization of semiconductor materials and devices using scanning probe techniques |
Yu, Edward T. |
1996 |
17 | 4-5 |
p. 147-206 60 p. |
artikel |
1 gevonden resultaten