|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
8 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Analog-to-digital converter testing—new proposals |
Cruz Serra, A. |
2004 |
26 | 1 |
p. 3-13 11 p. |
artikel |
|
| 2 | A state of the art on ADC modelling |
Arpaia, P. |
2004 |
26 | 1 |
p. 31-42 12 p. |
artikel |
|
| 3 | Comparative measurements of parameters of systems used for ADC testing |
Haasz, Vladimı́r |
2004 |
26 | 1 |
p. 21-30 10 p. |
artikel |
|
| 4 | Corrected rms error and effective number of bits for sine wave ADC tests |
Blair, Jerome J. |
2004 |
26 | 1 |
p. 43-49 7 p. |
artikel |
|
| 5 | Editorial Board |
2004 |
26 | 1 |
p. iii- 1 p. |
artikel |
||
| 6 | Four-parameter fitting of sine wave testing result: iteration and convergence |
Bilau, Tamás Zoltán |
2004 |
26 | 1 |
p. 51-56 6 p. |
artikel |
|
| 7 | New trends in ADC testing and modelling |
Haasz, Vladimı́r |
2004 |
26 | 1 |
p. 1-2 2 p. |
artikel |
|
| 8 | Testing ADCs for static and dynamic INL—killing two birds with one stone |
Wegener, Carsten |
2004 |
26 | 1 |
p. 15-20 6 p. |
artikel |
8 gevonden resultaten