Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             15 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Analysis and simulation of parallel signature analyzers Sridhar, T.
1987
13 5-6 p. 537-545
9 p.
artikel
2 A simplified algorithm for testing microprocessors Saluja, K.K.
1987
13 5-6 p. 431-441
11 p.
artikel
3 A systematic technique for detecting and locating bridging and stuck-at faults in I/O pins of LSI/VLSI chips Xu, S.
1987
13 5-6 p. 461-474
14 p.
artikel
4 A testable design of programmable logic arrays with universal control and minimal overhead Saluja, K.K.
1987
13 5-6 p. 503-517
15 p.
artikel
5 Diagnosis in hybrid fault situations under aim and a unified t-characterization theorem Somani, A.K.
1987
13 5-6 p. 567-576
10 p.
artikel
6 2-dimensional arithmetic residue check codes Bose, B.
1987
13 5-6 p. 547-554
8 p.
artikel
7 Effectiveness of single fault tests to detect multiple faults in parity trees Mouradd, S.
1987
13 5-6 p. 455-459
5 p.
artikel
8 Fault diameter of interconnection networks Krishnamoorthy, M.S.
1987
13 5-6 p. 577-582
6 p.
artikel
9 Foreword Reghbati, H.K.
1987
13 5-6 p. vii-
1 p.
artikel
10 Functional test generation using binary decision diagrams Abadir, M.S.
1987
13 5-6 p. 413-430
18 p.
artikel
11 Selective I/O scan: A diagnosable design technique for VLSI systems Chau, K.K.
1987
13 5-6 p. 485-502
18 p.
artikel
12 Techniques for efficiently implementing totally self-checking checkers in MOS technology Jha, N.K.
1987
13 5-6 p. 555-566
12 p.
artikel
13 Testing in two-dimensional iterative logic arrays Cheng, W.-T.
1987
13 5-6 p. 443-454
12 p.
artikel
14 Test schedules for VLSI circuits having built-in test hardware Abadir, M.S.
1987
13 5-6 p. 519-536
18 p.
artikel
15 The use of linear sums in exhaustive testing Akers, S.B.
1987
13 5-6 p. 475-483
9 p.
artikel
                             15 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland