|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
11 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Beyond MIL HBM testing: how to evaluate the real capability of protection structures |
Avery, L.R. |
1992 |
28 | 3 |
p. 301-311 11 p. |
artikel |
|
| 2 | Calendar |
1992 |
28 | 3 |
p. 319- 1 p. |
artikel |
||
| 3 | Detection of ESD-induced noncatastrophic damage in p-channel power MOSFETs |
Zupac, D. |
1992 |
28 | 3 |
p. 241-252 12 p. |
artikel |
|
| 4 | Electrostatic discharge: a charge driven phenomenon |
Greason, W.D. |
1992 |
28 | 3 |
p. 199-218 20 p. |
artikel |
|
| 5 | Electrostatics society of America 1992 conference on electrostatics |
Castle, G.S.P. |
1992 |
28 | 3 |
p. 317-318 2 p. |
artikel |
|
| 6 | Institute of physics seminar elimination of electrostatic problems in packaging |
Wilson, N. |
1992 |
28 | 3 |
p. 313-316 4 p. |
artikel |
|
| 7 | Mechanisms of charged-device electrostatic discharges |
Renninger, Robert G. |
1992 |
28 | 3 |
p. 253-283 31 p. |
artikel |
|
| 8 | Panel of referees |
1992 |
28 | 3 |
p. 326- 1 p. |
artikel |
||
| 9 | Physics of electro-thermal effects in ESD protection devices |
Krabbenborg, Benno |
1992 |
28 | 3 |
p. 285-299 15 p. |
artikel |
|
| 10 | Preface |
Greason, William D. |
1992 |
28 | 3 |
p. i- 1 p. |
artikel |
|
| 11 | Protecting N-channel output transistors from ESD damage |
Strauss, Mark S. |
1992 |
28 | 3 |
p. 219-240 22 p. |
artikel |
11 gevonden resultaten