|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A VXI power quality analyser implementing a wavelet transform-based measurement procedure |
Angrisani, L. |
1999 |
26 | 2 |
p. 91-102 12 p. |
artikel |
|
| 2 | Characterization of Yb–Er:glass lasers at 1.5 μm wavelength in terms of amplitude and frequency stability |
Svelto, Cesare |
1999 |
26 | 2 |
p. 119-128 10 p. |
artikel |
|
| 3 | Determination of strain distribution by means of digital shearography |
Steinchen, W. |
1999 |
26 | 2 |
p. 79-90 12 p. |
artikel |
|
| 4 | Experimental set-up for the characterization of automated number-plate recognizers |
Grattoni, Paolo |
1999 |
26 | 2 |
p. 103-114 12 p. |
artikel |
|
| 5 | High-frequency Hall probe calibration with a coaxial magnetic field generator |
Callegaro, Luca |
1999 |
26 | 2 |
p. 115-117 3 p. |
artikel |
|
| 6 | Self-calibration measuring methods and applications to measurements of electrical quantities |
Liu, Ji-Gou |
1999 |
26 | 2 |
p. 129-142 14 p. |
artikel |
|
| 7 | The evolution of tasks within the metre convention |
Kovalevsky, Jean |
1999 |
26 | 2 |
p. 143-149 7 p. |
artikel |
7 gevonden resultaten