|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
11 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Atomic resolution analysis with scanning tunneling microscopy |
Neddermeyer, H. |
1989 |
8 | 6 |
p. 230-235 6 p. |
artikel |
|
| 2 | Electron holography |
Tonomura, A. |
1989 |
8 | 6 |
p. 226-229 4 p. |
artikel |
|
| 3 | Fourier transform IR analysis of thin solid films |
Grosse, P. |
1989 |
8 | 6 |
p. 222-226 5 p. |
artikel |
|
| 4 | High spatial resolution auger electron spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy |
Hantsche, H. |
1989 |
8 | 6 |
p. 215-222 8 p. |
artikel |
|
| 5 | Laser Remote Chemical Analysis |
Long, S.R. |
1989 |
8 | 6 |
p. 243-244 2 p. |
artikel |
|
| 6 | Materials analysis in high technology — From analytical chemistry to analytical science |
Grasserbauer, M. |
1989 |
8 | 6 |
p. 191- 1 p. |
artikel |
|
| 7 | Materials characterization and chemical analysis |
Coleman, D. |
1989 |
8 | 6 |
p. 244- 1 p. |
artikel |
|
| 8 | Sputtered neutral mass spectrometry |
Reuter, Wilhad |
1989 |
8 | 6 |
p. 203-208 6 p. |
artikel |
|
| 9 | Surface studies with optical second-harmonic generation |
Heinz, T.F. |
1989 |
8 | 6 |
p. 235-242 8 p. |
artikel |
|
| 10 | The challenge of high technology for analytical chemistry |
Grasserbauer, M. |
1989 |
8 | 6 |
p. 192-202 11 p. |
artikel |
|
| 11 | X-ray fluorescence analysis using synchrotron radiation |
Saisho, H. |
1989 |
8 | 6 |
p. 209-214 6 p. |
artikel |
11 gevonden resultaten