|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
13 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | An economic, hands-on start to boundary-scan testing |
Bleeker, Harry |
1993 |
17 | 5 |
p. 299-303 5 p. |
artikel |
|
| 2 | A structured approach to board-level BIST using the boundary-scan master |
Jarwala, Najmi |
1993 |
17 | 5 |
p. 289-297 9 p. |
artikel |
|
| 3 | A useful source of knowledge on the 68000 family |
Bolton, Martin |
1993 |
17 | 5 |
p. 305-306 2 p. |
artikel |
|
| 4 | Boundary-scan design for cost-sensitive applications |
Harrod, Peter |
1993 |
17 | 5 |
p. 277-280 4 p. |
artikel |
|
| 5 | Boundary-scan testing |
Maunder, Colin |
1993 |
17 | 5 |
p. 258- 1 p. |
artikel |
|
| 6 | Calendar |
1993 |
17 | 5 |
p. 311-312 2 p. |
artikel |
||
| 7 | Case study of 1149.01 microprocessor implementations |
Bruce, WC |
1993 |
17 | 5 |
p. 267-275 9 p. |
artikel |
|
| 8 | Conference on Programming Languages and System Architectures with a special session in honor of Niklaus Wirth on his 60th birthday |
1993 |
17 | 5 |
p. 307- 1 p. |
artikel |
||
| 9 | Essential reading for the basics and implementation of boundary scan |
Bennetts, Ben |
1993 |
17 | 5 |
p. 304- 1 p. |
artikel |
|
| 10 | Newsfile |
1993 |
17 | 5 |
p. 308-310 3 p. |
artikel |
||
| 11 | Testability guidelines for multichip modules |
Posse, Kenneth E |
1993 |
17 | 5 |
p. 281-287 7 p. |
artikel |
|
| 12 | Testability on TAP |
Maunder, Colin M |
1993 |
17 | 5 |
p. 259-265 7 p. |
artikel |
|
| 13 | The application and use of boundary scan |
Ambler, AP |
1993 |
17 | 5 |
p. 305- 1 p. |
artikel |
13 gevonden resultaten