| nr |
titel |
auteur |
tijdschrift |
jaar |
jaarg. |
afl. |
pagina('s) |
type |
| 1 |
A statistical theory for the dielectric properties of thin island films
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Vlieger, J.
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1980
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69 |
1 |
p. 107-130
24 p.
|
artikel
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| 2 |
Deposition and characterization of thin SiO x films
|
Priestley, E.B.
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1980
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69 |
1 |
p. 39-52
14 p.
|
artikel
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| 3 |
Editorial Board
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1980
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69 |
1 |
p. iii-
1 p.
|
artikel
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| 4 |
Ferromagnetic resonance in the study of surface demagnetization due to chemisorption
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Göpel, W.
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1980
|
69 |
1 |
p. 131-135
5 p.
|
artikel
|
| 5 |
Électroluminescence bleue dans des couches minces de CdF2:NaF à 77 K
|
Benalloul, P.
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1980
|
69 |
1 |
p. 17-21
5 p.
|
artikel
|
| 6 |
Lifetime of heat-resistive films prepared by sputtering
|
Saito, Yukinori
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1980
|
69 |
1 |
p. 33-37
5 p.
|
artikel
|
| 7 |
Phénomènes de transport dans des couches minces de Te50−x Se50Sn x
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Arrial, A.
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1980
|
69 |
1 |
p. 23-31
9 p.
|
artikel
|
| 8 |
Preparation of In2O3 and tin-doped In2O3 films by a novel activated reactive evaporation technique
|
Nath, P.
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1980
|
69 |
1 |
p. 63-68
6 p.
|
artikel
|
| 9 |
Propriétés électriques de minces films de polyméres formés dans une décharge r.f. à partir de monoméres organiques semi-conducteurs
|
Castonguay, Jacques
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1980
|
69 |
1 |
p. 85-97
13 p.
|
artikel
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| 10 |
Scanning photovoltage investigation of silicon- and GaAs-based MOS capacitors
|
Streever, R.L.
|
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1980
|
69 |
1 |
p. 7-15
9 p.
|
artikel
|
| 11 |
Sputter growth and chemical analysis by X-ray photoelectron spectroscopy/electron spectroscopy of an InSe thin film
|
McEvoy, A.J.
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|
1980
|
69 |
1 |
p. L5-L8
nvt p.
|
artikel
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| 12 |
Thermal annealing study of Au/TiW metallization on silicon
|
Baker, J.E.
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1980
|
69 |
1 |
p. 53-62
10 p.
|
artikel
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| 13 |
Thermal conductivity of oxide coating on Zircaloy-2
|
Dua, A.K.
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|
1980
|
69 |
1 |
p. L1-L3
nvt p.
|
artikel
|
| 14 |
Thin film annealing by ion bombardment
|
Hirsch, E.H.
|
|
1980
|
69 |
1 |
p. 99-105
7 p.
|
artikel
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| 15 |
Travail de sortie de l'argent et de l'aluminium déposés en couches très minces sur du silicium
|
Robrieux, Bernard
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|
1980
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69 |
1 |
p. 1-6
6 p.
|
artikel
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| 16 |
Étude par microscopie électronique de composés NbGe, NbSi et NbGeSi de structure A15
|
Païdassi, Serge
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|
1980
|
69 |
1 |
p. 69-84
16 p.
|
artikel
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Tijdschrift beschrijving