|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
8 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A current based self-test methodology for RF front-end circuits |
Gopalan, Anand |
|
36 | 12 |
p. 1091-1102 |
artikel |
|
| 2 | A low-cost digital frequency testing approach for mixed-signal devices using ΣΔ modulation |
Prenat, Guillaume |
|
36 | 12 |
p. 1080-1090 |
artikel |
|
| 3 | Analog and mixed signal test techniques for SOC development |
Kaminska, Bozena |
|
36 | 12 |
p. 1063 |
artikel |
|
| 4 | Author Index - see attached for style |
|
36 | 12 |
p. XVI-XXI |
artikel |
||
| 5 | Built-in self-test of global interconnects of field programmable analog arrays |
Andrade Jr., Antonio |
|
36 | 12 |
p. 1112-1123 |
artikel |
|
| 6 | Test of a switched-capacitor ADC by a built-in charge sensor |
Mozuelos, R. |
|
36 | 12 |
p. 1064-1072 |
artikel |
|
| 7 | Test of switched-capacitor ladder filters using OBT |
Romero, Eduardo |
|
36 | 12 |
p. 1073-1079 |
artikel |
|
| 8 | The test search for true mixed-signal cores |
Kerkhoff, Hans G. |
|
36 | 12 |
p. 1103-1111 |
artikel |
8 gevonden resultaten