|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A review of analysis methods for sub-micron indentation testing |
Fischer-Cripps, A.C |
2000 |
58 | 4 |
p. 569-585 17 p. |
artikel |
|
| 2 | Auger electron spectroscopy study of SiC thin films deposited on silicon |
Lei, Y.M |
2000 |
58 | 4 |
p. 602-608 7 p. |
artikel |
|
| 3 | Characterisation of a saddle field fast atom beam source and its application to the growth of diamond-like carbon films |
Sarangi, D |
2000 |
58 | 4 |
p. 609-627 19 p. |
artikel |
|
| 4 | CuInSe2 thin films obtained by a novel electrodeposition and sputtering combined method |
Guillén, C |
2000 |
58 | 4 |
p. 594-601 8 p. |
artikel |
|
| 5 | Index |
2000 |
58 | 4 |
p. xiii-xiv nvt p. |
artikel |
||
| 6 | Semiconducting Silicides |
Steckelmacher, W |
2000 |
58 | 4 |
p. 628-629 2 p. |
artikel |
|
| 7 | The effect of temperature on electrochemical behavior for Cu–Al–O coatings prepared by CVD |
Yizhong, Huang |
2000 |
58 | 4 |
p. 586-593 8 p. |
artikel |
7 gevonden resultaten