Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             14 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Analysis of uniaxial and biaxial strain impact on the linearity of fully depleted SOI nMOSFETs Pavanello, Marcelo Antonio
2007
51 9 p. 1194-1200
7 p.
artikel
2 Calculation of the phonon-limited mobility in silicon Gate All-Around MOSFETs Godoy, A.
2007
51 9 p. 1211-1215
5 p.
artikel
3 Characterization of FD SOI devices and VCO’s on thin dielectric membranes under pressure Olbrechts, B.
2007
51 9 p. 1229-1237
9 p.
artikel
4 Editorial Board 2007
51 9 p. IFC-
1 p.
artikel
5 Electrical characteristics and simulations of self-switching-diodes in SOI technology Farhi, G.
2007
51 9 p. 1245-1249
5 p.
artikel
6 Electrical characterization of true Silicon-On-Nothing MOSFETs fabricated by Si layer transfer over a pre-etched cavity Kilchytska, V.
2007
51 9 p. 1238-1244
7 p.
artikel
7 Gate induced floating body effects in TiN/SiON and TiN/HfO2 gate stack triple gate SOI nFinFETs Rafí, J.M.
2007
51 9 p. 1201-1210
10 p.
artikel
8 High quality Germanium-On-Insulator wafers with excellent hole mobility Nguyen, Q.T.
2007
51 9 p. 1172-1179
8 p.
artikel
9 Monte Carlo simulation of Hall and magnetoresistance mobility in SOI devices Donetti, L.
2007
51 9 p. 1216-1220
5 p.
artikel
10 Optimisation of trench isolated bipolar transistors on SOI substrates by 3D electro-thermal simulations Nigrin, S.
2007
51 9 p. 1221-1228
8 p.
artikel
11 Quantum-wire effects in trigate SOI MOSFETs Colinge, Jean-Pierre
2007
51 9 p. 1153-1160
8 p.
artikel
12 Specific features of multiple-gate MOSFET threshold voltage and subthreshold slope behavior at high temperatures Kilchytska, V.
2007
51 9 p. 1185-1193
9 p.
artikel
13 Temperature impact on the Lorentzian noise induced by electron valence-band tunneling in partially depleted SOI p-MOSFETs Guo, W.
2007
51 9 p. 1180-1184
5 p.
artikel
14 Wideband characterization of SOI materials and devices Raskin, Jean-Pierre
2007
51 9 p. 1161-1171
11 p.
artikel
                             14 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland