|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Device Performance and Reliability Characterization of Interface and Bulk Effect in Amorphous Indium Gallium Zinc Oxide (a-IGZO) Thin Film Transistor |
| Auteur: |
Choi, Kwang-il Nam, Dong-Ho Park, Sung-Soo Jeong, Jae-Kyeong Lee, Ga-Won |
| Verschenen in: |
MRS proceedings |
| Paginering: | Jaargang 1108 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2009-01-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer International Publishing, Cham |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |