Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
 
 
  Current Transient Study of RF GaN HEMTs Biased at Quiescent Point of VDS = 28 V and ID = 100 mA/mm under Different Temperatures
 
 
Titel: Current Transient Study of RF GaN HEMTs Biased at Quiescent Point of VDS = 28 V and ID = 100 mA/mm under Different Temperatures
Auteur: Lin, Yen-Pin
Zhong, Yi Nan
Hsin, Yue-ming
Verschenen in: MRS advances
Paginering: Jaargang 4 () nr. 9 pagina's 575-580
Jaar: 2019-03-06
Inhoud:
Uitgever: Springer International Publishing, Cham
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland