|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Advanced atomic force microscopy-based techniques for nanoscale characterization of switching devices for emerging neuromorphic applications |
| Auteur: |
Kim, Young-Min Lee, Jihye Jeon, Deok-Jin Oh, Si-Eun Yeo, Jong-Souk |
| Verschenen in: |
Applied microscopy |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2021-05-26 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |