|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of ion/electron beam induced deposition for electrical connection using a modern focused ion beam system |
| Auteur: |
An, Byeong-Seon Kwon, Yena Oh, Jin-Su Shin, Yeon-Ju Ju, Jae-seon Yang, Cheol-Woong |
| Verschenen in: |
Applied microscopy |
| Paginering: | Jaargang 49 (2019) nr. 1 pagina's 1-5 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |