|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of a Thickness Meter for Conductive Thin Films Using Four-Point Probe Method |
| Auteur: |
Kang, Jeon-Hong Lee, Sang-Hwa Ruh, Hyun Yu, Kwang-Min |
| Verschenen in: |
Journal of electrical engineering & technology |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. 4 pagina's 2265-2273 |
| Jaar: |
2021-03-29 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |