|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
The development and application of the test system for the silicon pixel modules in HEPS-BPIX |
| Auteur: |
Ding, Ye Zhang, Jie Wei, Wei Li, Zhen-jie Li, Hang-xu Ji, Xiao-lu Zhang, Yan Jiang, Xiao-shan Zhu, Ke-jun Liu, Peng Chen, Yuan-bo Li, Qiu-ju Sheng, Wei-fan |
| Verschenen in: |
Radiation detection technology and methods |
| Paginering: | Jaargang 5 () nr. 1 pagina's 53-60 |
| Jaar: |
2020-11-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 20 gevonden artikelen
| << vorige |