|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of precise crystallographic directions on Si{111} wafers using self-aligning pre-etched pattern |
| Auteur: |
Narasimha Rao, Avvaru Venkata Swarnalatha, Veerla Pandey, Ashok Kumar Pal, Prem |
| Verschenen in: |
Micro and nano systems letters |
| Paginering: | Jaargang 6 (2018) nr. 1 pagina's 1-9 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |