|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Location-Specific Microstructure Characterization Within IN625 Additive Manufacturing Benchmark Test Artifacts |
| Auteur: |
Stoudt, M. R. Williams, M. E. Levine, L. E. Creuziger, A. Young, S. A. Heigel, J. C. Lane, B. M. Phan, T. Q. |
| Verschenen in: |
Integrating materials and manufacturing innovation |
| Paginering: | Jaargang 9 () nr. 1 pagina's 54-69 |
| Jaar: |
2020-03-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer International Publishing, Cham |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |