|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault intensity map analysis with neural network key distinguisher |
| Auteur: |
Ramezanpour, Keyvan Ampadu, Paul Diehl, William |
| Verschenen in: |
Journal of cryptographic engineering |
| Paginering: | Jaargang 11 () nr. 3 pagina's 273-288 |
| Jaar: |
2020-11-24 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring