|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope |
| Auteur: |
O. Kucera |
| Verschenen in: |
Radioengineering |
| Paginering: | Jaargang 19 (2010) nr. 1 pagina's 168-171 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: |
Several applications of the atomic force microscopy (AFM), such as measurement of soft samples, manipulation with molecules, etc., require mechanical analysis of the AFM probe behavior. In this article we suggest the electrical circuit analogy to AFM cantilever tip motion. Well developed circuit theories in connection with fairly accessible software for circuit analysis make this alternative method easy to use for a wide community of AFM users. |
| Uitgever: |
Spolecnost pro radioelektronicke inzenyrstvi (provided by DOAJ) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |