|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling the Substrate Skin Effects in Mutual RL Characteristics., |
| Auteur: |
H. Ymeri B. Nauwelaers K. Maex D. de Roest |
| Verschenen in: |
Radioengineering |
| Paginering: | Jaargang 12 (2003) nr. 4 pagina's 21-25 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: |
The goal of this work was to model the influence of the substrateskin effects on the distributed mutual impedance per unit lengthparameters of multiple coupled on-chip interconnects. The proposedanalytic model is based on the frequency-dependent distribution of thecurrent in the silicon substrate and the closed form integrationapproach. It is shown that the calculated frequency-dependentdistributed mutual inductance and the associated mutual resistance arein good agreement with the results obtained from CAD-oriented circuitmodeling technique. |
| Uitgever: |
Spolecnost pro radioelektronicke inzenyrstvi (provided by DOAJ) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |