|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
The LFSR and BCA VHDL Models for Built-in Self-test Circuits |
| Auteur: |
J. Mitrych |
| Verschenen in: |
Radioengineering |
| Paginering: | Jaargang 11 (2002) nr. 1 pagina's 14-17 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: |
The various test structures are proposed for BIST techniques [1],[2]. A typical structure used for generation of pseudo-random test setsis the linear feedback shift register (LFSR). The BIST techniques havewide application in testing whole devices and embedded components. Wefocus on the analysis of the state coverage, fault coverage, andoptimal structure of BIST schemes. |
| Uitgever: |
Spolecnost pro radioelektronicke inzenyrstvi (provided by DOAJ) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |