|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
2D Hole System Characterization by T/TF Dependence of Electrical Resistivity |
| Auteur: |
L. Moldovan |
| Verschenen in: |
Journal of electrical and electronics engineering |
| Paginering: | Jaargang 2 (2009) nr. 2 pagina's 156-159 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: |
The paper presents an experimental setup design for two-dimensional (2D) systems characterization at ultra low-temperature. The electrical resistivity can be measured for variable density of carriers. The resistivity measurements were done for different densities and shows the influence of finite-temperature over the behavior for an 2DHS confined in GaAs. |
| Uitgever: |
Editura Universităţii din Oradea (provided by DOAJ) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |