|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Aberration Corrected Beam Scanning Stimulated Emission Depletion Microscopy |
| Auteur: |
Yoo, Hongki Song, Incheon Gweon, Dae-Gab |
| Verschenen in: |
International journal of optomechatronics |
| Paginering: | Jaargang 2 (2008) nr. 4 pagina's 401-412 |
| Jaar: |
2008-10 |
| Inhoud: |
We present an aberration corrected beam scanning stimulated emission depletion (STED) microscopy. The beam scanning is essential to get images fast for practical usages in the biological applications. In this work the beam scanning method is applied to the STED microscopy. To maintain the imaging performance optimally, the aberration induced by the optic components, especially beam scanning parts, is corrected using adaptive optics. Thus, high resolution over the diffraction limit and high scanning speed are achieved without resolution and signal loss caused by the aberration. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |