|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
AFM CHARACTERIZATION OF CHITOSAN SELF-ASSEMBLED FILMS |
| Auteur: |
Assis, O. B. G. Bernardes-Filho, R. Vieira, D. C. Filho, S. P. Campana |
| Verschenen in: |
International journal of polymeric materials |
| Paginering: | Jaargang 51 (2002) nr. 7 pagina's 633-638 |
| Jaar: |
2002-07 |
| Inhoud: |
Atomic force microscopy (AFM) was used to examine the surface structure of self-assembled films obtained from water-soluble chitosan rich solution precursor. The film was supported onto functionalized glass slides resulting in a mountain-and-valley structure. This feature is attributed as resulting of the experimental condition where agglomeration of molecules in solution may occur. The film height does not exceed 20 nm with medium pore size of approximately 12 nm. This range of porosity is suitable for nanofiltration applications. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| volgende >> |