|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Discussion on stuck-at faults in combinational circuits |
| Auteur: |
Guran, Hasan Halici, Ugur |
| Verschenen in: |
International journal of electronics |
| Paginering: | Jaargang 67 (1989) nr. 1 pagina's 7-14 |
| Jaar: |
1989-07-01 |
| Inhoud: |
In combinational logic circuits, stuck-at faults are permanent faults that are modelled as logical problems. In this study, a new method for finding the complete test set of single stuck-at faults is presented. A novel algorithm based on the given discussion is developed and applied to an example. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |