|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
RESEARCH OF THE FATIGUE MODEL OF PZT FERROELECTRIC THIN FILMS |
| Auteur: |
Chen, Fugui Yang, Chengtao Zhang, Shuren Liu, Jinsong Tian, Zhaoming |
| Verschenen in: |
Integrated ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 78 (2006) nr. 1 pagina's 3-8 |
| Jaar: |
2006-11-01 |
| Inhoud: |
There is a high electric field exists at the interface layer between electrode and ferroelectric film, electrons can be injected into the ferroelectric film through the interface layer from the electrode. Besides, oxygen vacancies re-arrangement can cause the ferroelectric fatigue during the process of the electron injection. Considering the two factors above, we proposed the ferroelectric fatigue model, and the simulation result matched the experimental result perfectly. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |