|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
On-Wafer Measurements of Tuneability in Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Films |
| Auteur: |
Suherman, P. M. Jackson, T. J. Koutsonas, Y. Chakalov, R. A. Lancaster, M. J. |
| Verschenen in: |
Integrated ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 61 (2004) nr. 1 pagina's 133-137 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: |
On-wafer dielectric measurements of Ba0.5Sr0.5TiO3 thin films have been established over broad frequency ranges (40 Hz-50 GHz), using metallic coplanar transmission lines patterned onto the films. The films show tuneability of 27% and 18% at 1.6 kV cm-1 for low and microwave frequencies, respectively. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |