|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Models for the frequency dependence of coercive field and the size dependence of remanent polarization in ferroelectric thin films |
| Auteur: |
Scott, J. F. |
| Verschenen in: |
Integrated ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 12 (1996) nr. 2-4 pagina's 71-81 |
| Jaar: |
1996-10-01 |
| Inhoud: |
We have confirmed the theory of Ishibashi and Orihara for the frequency dependence of coercive fields in ferroelectric thin films.SrBi2NbTaO9, SrBi2Ta2O9, and PbZr1-xTixO3 (PZT) data from DeVilbis et al. reveal a power-law dependence of form Ec(f) = Bfd/α, where d is the dimensionality of domains (ca. unity in uniaxial ferroelectrics such as SBT and SBNT) and α is approximately 6, in agreement with theoretical predictions. Models are also presented for the polarization and fatigue data from NEC of micron-sized thin-film strontium bismuth tantalate capacitors, emphasizing behaviour at unsaturated voltages. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |