|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
2-d data collection in high pressure powder diffraction studies-applications to semiconductors |
| Auteur: |
McMahon, M. I. Nelmes, R. J. Liu, H. Belmonte, S. A. |
| Verschenen in: |
High pressure research |
| Paginering: | Jaargang 14 (1996) nr. 4-6 pagina's 277-286 |
| Jaar: |
1996-05-01 |
| Inhoud: |
Using angle-dispersive diffraction techniques and synchrotron radiation, we have made a detailed re-examination of the high-pressure behaviour of a number of core II-VI, III-V and group IV semiconductors. Despite much previous work on these materials, the good resolution afforded by angle-dispersive techniques, and the high-sensitivity of the image-plate area detector have yielded many new results which reveal that the accepted structural systematics have to be modified quite substantially. In this paper, we summarise the newly emerging structural systematics, and use the results to show how access to full 2-d powder patterns has proved essential in determining correct crystal structures. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |