|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
On the correlation between crystallinity of platinum bottom electrode and that of MOD derived PZT thin films |
| Auteur: |
Bao, Dinghua Wu, Xiaoqing Zhang, Liangying Yao, Xi |
| Verschenen in: |
Ferroelectrics letters section |
| Paginering: | Jaargang 24 (1998) nr. 3-4 pagina's 97-104 |
| Jaar: |
1998-08-01 |
| Inhoud: |
Growth of well(111)-oriented Pt and Pt/Ti films on SiO2/Si(111) substrates and crystallinity of PZT films grown on the Pt(111)/SiO2/Si(111) and Pt(111)/Ti/SiO2Si(111) substrates have been investigated. It was found by X-ray diffraction analysis that well (111)-oriented Pt film with a best full-width at half maximum (FWHM) of 0.28° was grown by the DC sputtering method. PZT films were prepared by metallo-organic decomposition (MOD) on Pt(111)-coated SiO2Si(111) substrates. The crystallinity of the PZT films improved as the FWHM of the Pt(111) diffraction peak decreased. The best FWHM obtained for a PZT film grown on a Pt(111)/Ti/SiO2/Si(111) substrate was 0.33°. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |