|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Ferroelectric fatigue characteristics of yttrium added pb(zr0.65ti0.35)o3 thin films prepared by sol-gel processing |
| Auteur: |
Kim, Joon Han Park, Chang Yub |
| Verschenen in: |
Ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 173 (1995) nr. 1 pagina's 37-43 |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: |
Remanent polarization and coercive field of pure Pb(Zr0.65Ti0.35)O3 thin films after 1010 polarization reversals were decreased and increased, respectively. In case of yttrium added specimens, remanent polarization was not decreased and coercive field was increased more than that of pure specimens after fatigue. The difference of fatigue characteristics between pure and yttrium added PZT thin films might be due to the variation of the number of holes and vacancies in PZT caused by the addition of yttrium. Considering these results, we concluded that the fatigue characteristics strongly depend on the number of holes and vacancies in PZT thin films. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |